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Capteur, palpeur, cale, pieds à coulisse, banc de mesure, etc. 78

Albert Denis Industrie 1
Ametek - Solartron Metrology 1
Beaupère 3
Blum Novotest 6
Bowers Métrologie 1
Detector 1
Heidenhain 13
Hexagon 2
Hexagon Metrology - M&H 1
Hexagon Metrology - Romer 1
Hoffmann 1
Leica Geosystems 1
Lemoine 1
Mahr 2
Marposs 4
Micro-Epsilon 5
Mitutoyo 8
Pms Becus 3
Proceq 1
Renishaw 15
Schenck 1
Stotz 1
Trimos Sylvac Métrologie 3
Vectral 1
Zoller 1

Les actualités sont triées par ordre chronologique inversé :

Spécial MICRONORA 2004 : TRIMOS SYLVAC METROLOGIE présentera la gamme de bancs de mesure Alesta

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24/09/2004

Les bancs de mesure Alesta sont spécialement destinés au préréglage des vérifica...

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Spécial MICRONORA 2004 : Une nouveauté sur le stand MAHR, le comparateur inductif Millimess 2100

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09/09/2004

Les caractéristiques techniques du comparateur sont les suivantes : ? L'afficha...

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Rétrofit : RENISHAW installe ses palpeurs sur les MOCN

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08/07/2004

Le climat de compétitivité de l'industrie mécanique oblige chaque industriel à ...

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Palpeur de mesure incrémental CT 6001 d'HEIDENHAIN permet des mesures de très haute précision (+ 0,1 µm et même supérieure)

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19/05/2004

La calibration de cales-étalon jusqu'à 100 mm nécessite généralement un jeu de r...

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Un nouveau palpeur 3D chez HEIDENHAIN : le TS 640

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26/04/2004

Grâce aux palpeurs 3D de HEIDENHAIN, les travaux de réglages répétitifs sont eff...

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Spécial INDUSTRIE 2004 : BLUM NOVOTEST, fabricant de système de mesure pour machines-outils, présente sa nouvelle gamme de palpeurs pièce TC

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03/03/2004

Blum a incorporé son système innovateur de mesure optoélectronique dans ce palpe...

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Spécial EMO 2003 : sur son stand, HEIDENHAIN exposera sa gamme de systèmes de mesure et de commandes numériques

Spécial EMO 2003 : sur son stand, HEIDENHAIN exposera sa gamme de syst...
16/10/2003

Sur son stand HEIDENHAIN exposera : - des systèmes de mesure linéaire incrément...

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Spécial EMO 2003 : BLUM LaserControl NT, le système Laser de 3ème génération pour la mesure d'outil et la détection de bris

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02/10/2003

La société allemande BLUM-NOVOTEST GmbH, spécialiste de la métrologie de product...

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Spécial EMO 2003 : sur le stand MITUTOYO, 5 nouveautés, dont un comparateur de conception entièrement nouvelle

Spécial EMO 2003 : sur le stand MITUTOYO, 5 nouveautés, dont un compar...
29/09/2003

QUICK IMAGE est un nouveau concept de mesure 2D par analyse d'image, très simple...

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