Altisurf 520TWIN d'ALTIMET, la métrologie pour feuillards tous matériaux

Cette plateforme de métrologie des états de surface possède des spécifications type qui reflètent sa haute qualité d'engineering : Max.f.dév.  à  h=200mm inf. à 4µ/100mm. La mesure est multi-voies optiques 3 mm, 300µ, Caméra CCD et double-face en entrefer.

Elle permet ainsi de caractériser l'épaisseur des feuillards, en mesure dessus-dessous multiplexée temps réel avec une cohérence absolue des profils et surfaces.

Ses axes sont motorisés à cc et ses applications concernent les mesures d'épaisseurs absolue en référence Top-Down-Thickness, la cartographie 3D, la mesure d'épaisseurs de films transparents, la métrologies des « scores », pliures, retassures, déformations ainsi que toutes les applications de tribologie recto-verso des matériaux plats.