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ALTIMET annonce son premier instrument portable autonome destiné à la ...

16/10/2006

Ce nouvel instrument de métrologie des états de surface sans contact permet la m...

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Altisurf 520RT d'ALTIMET est destiné à la métrologie des pièces tubula...

03/12/2004

Cette plateforme de métrologie des états de surface possède les spécifications t...

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Altisurf 520TWIN d'ALTIMET, la métrologie pour feuillards tous matériaux

18/06/2004
Cette plateforme de métrologie des états de surface possède des spécifications type qui reflètent sa haute qualité d'engineering : Max.f.dév.  à  h=200mm inf. à 4µ/100mm. La mesure est multi-voies optiques 3 mm, 300µ, Caméra CCD et double-face en entrefer.

Elle permet ainsi de caractériser l'épaisseur des feuillards, en mesure dessus-dessous multiplexée temps réel avec une cohérence absolue des profils et surfaces.

Ses axes sont motorisés à cc et ses applications concernent les mesures d'épaisseurs absolue en référence Top-Down-Thickness, la cartographie 3D, la mesure d'épaisseurs de films transparents, la métrologies des « scores », pliures, retassures, déformations ainsi que toutes les applications de tribologie recto-verso des matériaux plats.

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