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01/03/2012

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05/10/2011

Le consortium COMET co-financé par l’UE (dont NIKON METROLOGY est membre), crée ...

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Spécial EMO HANOVRE 2011 : NIKON exposera le système rayons-X et de tomographie numérique XT H 225

12/09/2011
Les systèmes rayons-X et de tomographie numérique offrent une excellente précision et permettent de mesurer les structures géométriques internes et externes d’une pièce, sans destruction ni altération de celle-ci ou leur rétro-conception.

Le système polyvalent XT H 225 propose une puissante source Microfocus, un grand volume d’inspection et une importante résolution d’image. Il couvre une large gamme d’applications: inspection de pièces moulées, de pièces en plastique et de mécanismes complexes, mais aussi recherche sur les matériaux ou les spécimens naturels.

Seront aussi présentés sur le stand des systèmes de métrologie comme le Neixiv VMA – système de mesure par vidéo.

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