INDUSTRIE PARIS : NIKON METROLOGY exposera en particulier un système rayons-X et de tomographie

Les systèmes rayons-X et de tomographie numérique offrent une excellente précision et permettent de mesurer les structures géométriques internes et externes d’une pièce, sans destruction ni altération de celle-ci ou leur rétro-conception.

Le système polyvalent XT H 225 propose une puissante source Microfocus, un grand volume d’inspection et une importante résolution d’image. Il couvre une large gamme d’applications: inspection de pièces moulées, de pièces en plastique et de mécanismes complexes, mais aussi recherche sur les matériaux ou les spécimens naturels.

Ce système sera présenté sur le salon Industrie Paris, seront aussi présentés sur le stand d’autres systèmes de mesure comme le Neixiv VMA – système de mesure par vidéo, le ShuttlePix – Microscope Numérique Portable, une MMT LK et un bras de mesure.